大口径光学系统杂散光测试技术及应用

项目持有方：西安光学精密机械研究所
项目简介：
本项目针对航天航空领域大口径光学系统杂散光测量长期存在的杂光系数无法测量长期存在的杂光系数无法测量、PST测量范围小、测试精度无法满足需求等瓶颈性技术难题，从光能传播理论出发，深入研究解决限制杂散光测试能力提升的关键技术问题，为大口径相机的高精度杂散光测试提供技术保障。针对长焦距、大口径光学系统杂散光系数无法测量的难题，发明了一种离轴反射式杂散光系数测量技术，可实现口径≥Φ800mm的光学系统的杂散光系数测量；针对PST无法测量的难题，建立了大口径高精度PST测试系统，基于杂散光精确建模仿真和高效环境杂散光抑制技术，在国内首次建立了双圆柱消光腔，可有效抑制空间强背景散射，使得PST测试系统测量范围达到10-3～10-10，率先提出一种校准镜头用于杂散光测量系统的校准。研究成果获得了航空航天领域用户的广泛关注。 
联系方式：0553—3993786